madrid2i

Resumen

The invention describes a procedure for correcting the scattering effect of light in a flat laser beam microscope comprising: calculating, by means of Monte Carlo simulations, the transfer function of a medium for different scattering coefficients and scanning depths, creating a transfer functions database: experimentally estimate the dispersion coefficient of a sample assuming that it is uniform throughout the sample: scan the sample using the flat laser beam microscope to obtain a set of images corresponding to different sections of the sample; and deconvolve each image of the sample obtained in the scan using the transfer function of the database that corresponds to the dispersion coefficient of the sample and the scanning depth of each image, thus correcting in each image the effect of the dispersion of the light. (Machine-translation by Google Translate, not legally binding)

Reivindicaciones

1. REIVINDICACIONES 1. Procedimiento para corregir el efecto de la dispersión de la luz en medidas de un microscopio de haz láser plano, caracterizado por que comprende los siguientes pasos: a) calcular, mediante simulaciones usando el método de Monte Carlo, la función de transferencia de un medio semitransparente para diferentes coeficientes de dispersión y profundidades de escaneo, creando una base de datos de funciones de transferencia correspondientes a cada coeficiente de dispersión y profundidad de escaneo; b) estimar experimentalmente usando el microscopio de haz láser plano el coeficiente de dispersión de una muestra suponiendo que es uniforme en toda la misma, donde la estimación comprende los siguientes pasos: b1) montar la muestra en el microscopio de haz laser plano; b2) iluminar cada plano de la muestra con un haz gaussiano; b3) capturar imágenes de la propagación del haz gaussiano en la muestra y repetir el proceso en diferentes posiciones; y b4) estimar el coeficiente de dispersión de la muestra midiendo la divergencia de los haces causada por la dispersión; c) escanear normalmente la muestra mediante el microscopio de haz láser plano, obteniendo un conjunto de imágenes correspondientes a diferentes secciones de la muestra; y d) deconvolucionar cada imagen de la muestra obtenida en el escaneo con la función de transferencia de la base de datos que corresponde al coeficiente de dispersión de la muestra y a la profundidad de escaneo de cada imagen, revirtiéndose así en cada imagen el efecto de la dispersión de la luz. 2. Procedimiento de acuerdo con la reivindicación 1, donde la deconvolución se realiza utilizando el método de Wiener.

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