Reivindicaciones

1. REIVINDICACIONES 2. 1.-Dispositivo posicionador (1) para microscopios de sonda local (2), ope-rable a temperaturas criogénicas, para posicionar una muestra (3) en una región de observación (2.2) que comprende: 3. • una base (1.1) adaptada para unirse de forma solidaria al_microscopio de sonda local (2); 4. • un portamuestras (1.2); 5. • unos medios de guiado entre la base (1.1) y el portamuestras (1.2) que com-prenden una primera superficie (1.1.1) de fricción dispuesta en la base (1.1) y una segunda superficie (1.2.1) de fricción dispuesta en el portamuestras (1.2), de tal modo que dicha segunda superficie (1.2.1) de fricción está adaptada para desplazarse por deslizamiento sobre la primera superficie (1.1.1) de fricción de la base (1.1); y 6. • un actuador (1.4) para la impulsión del portamuestras (1.2) respecto de la ba-se (1.1); 7. donde la base (1.1) y el portamuestras (1.2) se encuentran en el interior de una carcasa (5.12) de muy bajas temperaturas y en contacto térmico con un elemento de termalización, caracterizado porque el actuador (1.4) se encuentra situado fuera de la carcasa (5.12) de muy bajas temperaturas, estando dicho actuador (1.4) vinculado al portamuestras (1.2) mediante unos medios de transmisión (1.3) de fuerza que están comprendidos en el dispositivo posicionador (1), de tal modo que el actuador (1.4) impulsa el portamuestras (1.2) a través de los medios de transmisión (1.3) de fuerza, siendo dichos medios de transmisión (1.3) de fuerza de baja conductividad térmica. 8. 2.-Dispositivo según la reivindicación 1 caracterizado porque los me-dios (1.3) de transmisión de fuerza son de tracción, y por disponer, adicionalmente, de unos primeros medios elásticos (1.5) de tal modo que los medios de transmisión (1.3) de fuerza y dichos primeros medios elásticos (1.5) están adaptados para operar en oposición. 9. 3.-Dispositivo según las reivindicaciones 1 o 2 caracterizado porque com-prende unos segundos medios elásticos (1.6) adaptados para mantener el contacto bajo presión entre la primera superficie (1.1.1) de fricción y la segunda superfi-cie (1.2.1) de fricción. 10. 4.-Dispositivo según las reivindicaciones 1 a 3 caracterizado porque la pri-mera superficie (1.1.1) de fricción, la segunda superficie (1.2.1) de fricción o una com-binación de las mismas están recubiertas por un lubricante sólido. 11. 5.-Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 4 caracterizado porque la frecuencia fundamental de resonancia del dispositivo posicionador (1) es mayor que 10kHz para mejorar la estabilidad mecánica y aumentar la precisión en la posición de la muestra (3). 12. 6.-Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 5 caracterizado porque el cuerpo de la base (1.1) o el cuerpo del portamuestras (1.2) está hecho de titanio o aluminio. 13. 7.-Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 6 caracterizado porque el actuador (1.4) es un actuador lineal. 14. 8.-Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 7 caracterizado porque la primera superficie de fricción (1.1.1) o la segunda superficie (1.2.1) de fric-ción están recubiertas de alúmina. 15. 9.-Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 8 caracterizado porque los medios de guiado están configurados para formar un carril (1.1.2) que per-mite el desplazamiento lineal. 16. 10.-Dispositivo según la reivindicación 9 caracterizado porque la primera superficie (1.1.1) de fricción y la segunda superficie de fricción (1.1.2) son planas. 17. 11.-Microscopio de sonda local (2) con capacidad de operar a temperatu-ras criogénicas, que comprende un dispositivo posicionador (1) de acuerdo a cualquie-ra de las reivindicaciones anteriores 1 a 10.