Resumen
Optoelectronic device to determine the absolute retardance and the angle of rotation of an optical retarder. An optoelectronic device is presented to simultaneously determine the absolute retardance and the rotation angle of the fast eigenstate of an optical retarder (4). The device consists of a light source (1), a polarization control system (2), an interferometer (3) capable of producing two different polarization states, a system to rotate the desired optical retarder (4). characterize, a second polarization control system (5), a photodetection system (6) and a data processing system (7). The invention also includes methods for simultaneously calculating the absolute retardance and the rotation angle of the fast axis of an optical retarder (4) from measurements of the rotation angle of the retarder (4) and the photodetection system (6). . (Machine-translation by Google Translate, not legally binding)
Reivindicaciones
1. REIVINDICACIONES 1. Dispositivo optoelectrónico para determinar de forma simultánea la retardancia absoluta y el ángulo de giro del autoestado rápido de un retardador óptico (4) que consiste en: - una fuente de luz (1); - al menos, dos sistemas de control de la polarización, un primer sistema de control de polarización (2) y un segundo sistema de control de polarización (5); - un interferómetro de doble camino (3) capaz de controlar la polarización de los haces de cada uno de sus brazos; - un soporte rotatorio (10) que permite girar el retardador óptico (4); - un sistema de fotodetección (6), donde se produce la interferencia de los dos haces de los brazos del interferómetro (3); - un sistema de procesamiento de datos (7). 2. Dispositivo según la reivindicación 1 en el que la fuente de luz está o no colimada y se selecciona del grupo formado por: láser, diodo láser, LED, lámpara fluorescente y/o lámpara de incandescencia. 3. Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores en el que los sistemas de control de la polarización se seleccionan del grupo formado por: polarizadores dicroicos, polarizadores de lámina dicroica, polarizadores de nanopartículas, polarizadores de cubo, polarizadores Brewster, matrices de polarizadores unidimensionales y/o matrices de polarizadores bidimensionales. 4. Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores en el que el primer sistema de control de la polarización (2) está incorporado en la fuente de luz (1).5 5. Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores en el que el interferómetro de doble camino (3) se selecciona del grupo formado por: un interferómetro de Michelson, un interferómetro de Mach-Zehnder, un interferómetro de doble rendija de Young, un interferómetro de biprisma de Fresnel o un interferómetro de Sagnac. 6. Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores en el que los sistemas de control de la polarización de los dos caminos del interferómetro (3) se seleccionan del grupo formado por polarizadores, combinaciones de polarizadores o matrices de polarizadores. 7. Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores en el que el soporte rotatorio (10) está motorizado. 8. Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores en el que el sistema de fotodetección (6) se selecciona del grupo formado por: un fotodetector, una matriz de fotodetectores unidimensional, una matriz de fotodetectores bidimensional, un espectrofotómetro, una cámara CCD o una cámara CMOS. 9. Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores en el que el sistema de procesamiento de datos (7) se selecciona entre una tarjeta de procesamiento de datos con una pantalla, un ordenador o cualquier otra máquina electrónica digital programable capaz de ejecutar comandos para procesar datos de entrada. 10. Procedimiento para determinar de forma simultánea la retardancia absoluta y el ángulo de giro del autoestado rápido de un retardador óptico lineal o elíptico, utilizando el dispositivo definido en cualquiera de las reivindicaciones 1-9, que incluye: a) tomar al menos dos medidas de las franjas de interferencia conforme rota el retardador óptico (4) mediante el soporte rotatorio (10); b) calcular la posición de, al menos, un máximo o, al menos, un mínimo de las franjas de interferencia en cada una de las medidas; c) realizar un ajuste de las posiciones a la ecuación: <img class="EMIRef" id="7caba590-726d-4075-b003-671d14f3b64d-imgf000022-0001" /> 11. Procedimiento para determinar de forma simultánea la retardancia absoluta y el ángulo de giro del autoestado rápido de un retardador óptico según la reivindicación 10 en el que, en el paso a), se toma la medida del patrón de franjas de interferencia en su conjunto. 12. Procedimiento para determinar de forma simultánea la retardancia absoluta y el ángulo de giro del autoestado rápido de un retardador óptico según las reivindicaciones 10-11 en el que el paso c) se sustituye por: d) determinar los ángulos de giro del retardador óptico (4) en los que las posiciones de los máximos y/o mínimos de las distribuciones de intensidad en función de la diferencia de caminos ópticos son máximas o mínimas. 13. Procedimiento para determinar de forma simultánea la retardancia absoluta y el ángulo de giro del autoestado rápido de un retardador óptico lineal o elíptico, utilizando el dispositivo definido en cualquiera de las reivindicaciones 1-9, que incluye: a) medir la intensidad el sistema de fotodetección (6) para, al menos, dos diferencias de camino óptico entre los brazos del interferómetro de doble camino (3) y dos ángulos de giro del retardador óptico (4); b) calcular la posición de, al menos, un máximo o, al menos, un mínimo de las distribuciones de intensidad en función de la diferencia de camino óptico, para cada ángulo de giro del retardador óptico (4); c) realizar un ajuste de las posiciones a la ecuación: <img class="EMIRef" id="7caba590-726d-4075-b003-671d14f3b64d-imgf000023-0001" /> 14. Procedimiento para determinar de forma simultánea la retardancia absoluta y el ángulo de giro del autoestado rápido de un retardador óptico según la reivindicación 13 en el que el paso c) se sustituye por: d) determinar los ángulos de giro del retardador óptico (4) en los que las posiciones de los máximos y/o mínimos de las distribuciones de intensidad en función de la diferencia de caminos ópticos son máximas o mínimas.
