Reivindicaciones

1. 5 2. 10 3. 15 4. 20 5. 25 6. 30 7. 35 8. REIVINDICACIONES 9. 1. - Dispositivo para medir el espesor de acristalamientos, caracterizado por que comprende un elemento de fijación (1) al acristalamiento (7) y que está unido a una escala graduada (14) que a su vez está fijada a un soporte (2) de escala graduada, de manera que en una posición de uso, el soporte (2) de escala graduada forma un ángulo de 90° respecto al elemento de fijación (1), comprendiendo un emisor de haz láser (11) situado en un soporte de haz láser (3) que está unido al elemento de fijación (1) de manera que en la posición de uso forma 45° respecto del elemento de fijación (1), donde una proyección de haz láser sobre el acristalamiento (7) es reflejada en la escala graduada (14) permitiendo determinar el espesor de dicho acristalamiento (7). 10. 2. - Dispositivo según la reivindicación 1, en el que el elemento de fijación (1) está unido al soporte (2) de escala graduada mediante una articulación (10) que permite, en la posición de uso, que el soporte (2) de escala graduada forme un ángulo máximo de 90° respecto al elemento de fijación (1). 11. 3. - Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en el que el soporte del haz láser (3) está unido al elemento de fijación (1) mediante una segunda articulación (6) de manera que en la posición de uso el ángulo máximo de 45° respecto al elemento de fijación (1) está definido por una pieza de tope de giro (13). 12. 4 - Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, que comprende medios de fijación (4) del elemento de fijación (1) al acristalamiento (7). 13. 5. - Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en el que el elemento de fijación (1) comprende un nivel de verticalidad (5). 14. 6. - Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones 2 a 5, en el que el soporte (2) de escala graduada comprende un nivel de horizontalidad (15).