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Device and method for carrying out mechanical tests on micrometric samples (Machine-translation by Google Translate, not legally binding)CM Patents

Índice de la ficha

Updated at
24/07/2026
Numero publicacion
WO.2024141686.A1
Fecha publicacion
04/07/2024
Numero solicitud
WO2023ES70742
Fecha presentacion
13/12/2023

En detalle

Resumen

Device and method for carrying out mechanical tests on micrometric samples (16), comprising: - a support (8, 9, 10) for depositing a substrate (17) containing the micrometric sample (16), - a force application element (1, 2, 4, 5, 6) comprising a plate (6) parallel to the support (8, 9, 10) and linearly displaceable with respect to it (8, 9, 10) to produce compression or traction on the micrometric sample (16), - a force transducer (2) in connection with the force application element (1, 2, 4, 5, 6) for measuring the force applied on the micrometer sample (16), - at least a distance sensor (15) for measuring the thickness of the sample (16) during the test, - Control means in connection with the force transducer (2) and with the sensor (15) for collecting the measured data. (Machine-translation by Google Translate, not legally binding)

Reivindicaciones

1. REIVINDICACIONES 1. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, caracterizado por que comprende: - un soporte (8, 9, 10) para depositar un sustrato (17) que contiene la muestra (16) micrométrica, - un elemento de aplicación de fuerza (1, 2, 4, 5, 6) que comprende una placa (6) paralela al soporte (8, 9, 10) y desplazable linealmente respecto al mismo (8, 9, 10) de modo que está configurado para producir una compresión o tracción sobre la muestra micrométrica (16) depositada en el sustrato (17), - un transductor de fuerza (2) en conexión con el elemento de aplicación de fuerza (1, 2, 4, 5, 6) para la medición de la fuerza aplicada sobre la muestra micrométrica (16), - al menos un sensor (15) de distancia configurado para la medición del espesor de la muestra (16) durante el ensayo, - unos medios de control en conexión con el transductor de fuerza (2) y con el sensor (15) para la recogida de los datos medidos. 2. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según la reivindicación 1, caracterizado por que el sensor (15) de distancia está configurado para la medición de la distancia entre superficies del sustrato (17) y la muestra (61) y/o el elemento de aplicación de fuerza (1,2, 4, 5, 6) para la medición del espesor de la muestra (16). 3. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que comprende al menos un actuador lineal (9) en conexión con el soporte (8, 9, 10) para el desplazamiento del mismo (8, 9, 10) para lograr su paralelismo con la base (6) del elemento de aplicación de fuerza (1,2, 4, 5, 6). 4. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según la reivindicación 3, caracterizado por que el actuador lineal (9) está en conexión con los medios de control, estando los medios de control configurados para recibir una señal del sensor (15) relativa a la distancia en al menos tres puntos del soporte (8, 9, 10) y la base del elemento de aplicación de fuerza (1, 2, 4, 5, 6) y actuar sobre el actuador lineal (9) para su desplazamiento. 5. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que el elemento de aplicación de fuerza (1,2, 4, 5, 6) y el sustrato (17) comprenden una superficie que produce adhesión a la muestra (16). 6. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que comprende adicionalmente un sistema de imagen por microscopía para obtener una imagen micrográfica de la muestra (16). 7. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que comprende adicionalmente un sistema para control de temperatura de la muestra (16) durante el ensayo. 8. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que comprende adicionalmente un sistema para control de la concentración de gases en la muestra (16) durante el ensayo. 9. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que las superficies del sustrato (17) y del elemento de aplicación de fuerza (1,2, 4, 5, 6) son de calidad óptica. 10. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que la placa (6) del elemento de aplicación de fuerza (4, 5, 6) es porosa y/o comprende orificios para el paso de fluido a través de ella. 11. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que comprende una caja (7) para depositar la muestra (16) que integra el sustrato (17). 12. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que comprende uno o varios sensores (15) láser. 13. - Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según la reivindicación 12, caracterizado por que el sustrato (17) es transparente a la luz empleada por los sensores (15) láser. 14.- Dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que comprende uno o varios sensores (15) fijos y/o uno o varios sensores (15) móviles para medir distancias en varios puntos. 15.- Método para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas que comprende los siguientes pasos: - depositar una muestra (16) en un sustrato (17) y posteriormente el sustrato (17) sobre un soporte (8, 9, 10) de un dispositivo para realizar ensayos mecánicos sobre muestras (16) micrométricas, - desplazar linealmente un elemento de aplicación de fuerza (1, 2, 4, 5, 6) que comprende una placa (6) paralela al soporte (8, 9, 10) de modo que se produzca una compresión o tracción sobre la muestra micrométrica (16) depositada en el sustrato (17), - medir la fuerza aplicada mediante un transductor de fuerza (2) en conexión con el elemento de aplicación de fuerza (1,2, 4, 5, 6), - medir mediante al menos un sensor (15) de distancia el espesor de la muestra (16) durante el ensayo, - recoger los datos medidos mediante unos medios de control en conexión con el transductor de fuerza (2) y con el sensor (15).

Etiquetas

Inventores
Plaza Baonza Gustavo RamónGonzález Bermúdez Blanca de los ReyesGuinea Tortuero Gustavo VíctorPérez Rigueiro JoséRojo Pérez Francisco JavierDaza García Rafael
Solicitantes
Universidad Politécnica de Madrid
Clasificacion ipc
G01N 3/ 08 A IG01N 33/ 483 A I
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