Logo
About usInnovation CMChallengesEuropa2iEntrepreneurshipR&D&I SearchAgentsEventsReports
en
METHOD AND SYSTEM FOR ALIGNING THE FACETS OF A HELIOSTAT IN A SOLAR FIELDCM Patents

Índice de la ficha

Updated at
24/07/2026
Numero publicacion
WO.2022013468.A1
Fecha publicacion
20/01/2022
Numero solicitud
WO2021ES70510
Fecha presentacion
13/07/2021

En detalle

Resumen

The invention describes a method for aligning the facets of a heliostat in a solar field, wherein a target heliostat (HO) is situated behind a reference heliostat (HR). The method comprises: orienting the target heliostat (HO) and the reference heliostat (HR) such that they face each other; obtaining an image by means of an image acquisition device (DAI) attached to a rear face of a reference facet (FR) of the reference heliostat (HR), said image containing at least the reference facet (FR) reflected in at least one target facet (FO); comparing features of the reference facet (FR) in the obtained image (I) with theoretical features corresponding to a correct alignment of the target facet (FO); and correcting the alignment of the target facet (FO) such that errors identified are eliminated. Also described is a heliostat designed for carrying out the method.

Reivindicaciones

1. REIVINDICACIONES 1. Método para alinear las facetas de un heliostato de un campo solar, donde el campo solar comprende al menos un heliostato de referencia (HR) y un heliostato objeto (HO), donde el heliostato objeto (HO) está situado detrás del heliostato de referencia (HR), caracterizado por que comprende los siguientes pasos: - orientar el heliostato objeto (HO) y el heliostato de referencia (HR) de manera que una superficie frontal reflectante del heliostato objeto (HO) está enfrentada a una superficie posterior no reflectante del heliostato de referencia (HR); - obtener, mediante un dispositivo de adquisición de imágenes (DAI) fijado a una cara posterior de una faceta de referencia (FR) del heliostato de referencia (HR) y orientado hacia el heliostato objeto (HO), una imagen (I) que contiene al menos dicha faceta de referencia (FR) del heliostato de referencia (HR) reflejada en al menos una faceta objeto (FO) del heliostato objeto (HO); - comparar unas características de la faceta de referencia (FR) en la imagen (I) obtenida con unas características teóricas de la faceta de referencia (FR) correspondientes a un alineamiento correcto de la faceta objeto (FO) para determinar los errores de alineamiento de la faceta objeto (FO); y - corregir el alineamiento de la faceta objeto (FO) de manera que se eliminan los errores determinados. 2. Método de acuerdo con la reivindicación 1, donde la imagen (I) obtenida mediante el dispositivo de adquisición de imágenes (DAI) contiene varias facetas objeto (FO) en las que se ve reflejada al menos una faceta de referencia (FR). 3. Método de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones anteriores, donde las características se determinan empleando al menos uno de entre los siguientes métodos: SIFT (Scale Invariant Feature Transform), SURF (Speeded Up Robust Features), o aprendizaje automático. 4. Método de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones anteriores, donde las características comprenden al menos uno de entre líneas, bordes o esquinas de la faceta de referencia (FR). 5. Método de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones anteriores, donde el paso de corregir el alineamiento de la faceta objeto (FO) se realiza de manera manual. 6. Método de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones 1-4, donde el paso de corregir el alineamiento de la faceta objeto (FO) se realiza de manera automática. 7. Método de acuerdo con la reivindicación 6, donde la corrección se realiza accionando unos medios motorizados de fijación (MMF) que conectan la faceta objeto (FO) a una estructura posterior de soporte (EPS) del heliostato objeto (HO). 8. Programa de ordenador que comprende instrucciones de programa para hacer que un ordenador lleve a la práctica el paso descrito en cualquiera de las reivindicaciones 1 a 7 de comparar unas características de la faceta de referencia (FR) en la imagen obtenida con unas características objetivo de la faceta de referencia (FR) correspondientes a un alineamiento correcto de la faceta objeto (FO) para determinar los errores de alineamiento de la faceta objeto (FO). 9. Programa de ordenador según la reivindicación 8, incorporado en medios de almacenamiento. 10. Programa de ordenador según la reivindicación 8, soportado en una señal portadora. 11. Sistema configurado para llevar a cabo el método de cualquiera de las reivindicaciones 1-7, caracterizado por que comprende un heliostato (HR) que además comprende una pluralidad de dispositivos de adquisición de imágenes (DAI) fijados a la cara posterior de cada faceta (F). 12. Sistema de acuerdo con la reivindicación 11 , donde cada dispositivo de adquisición de imágenes (DAI) está fijado a la respectiva faceta (F) mediante un medio de anclaje (MA) que comprende un elemento de fijación a la cara posterior de la faceta (F) y un elemento de acoplamiento del dispositivo de adquisición de imágenes (DAI). 13. Sistema de acuerdo con la reivindicación 12, donde el medio de anclaje (MA) comprende además una rótula a la que está fijado el dispositivo de adquisición de imágenes (DAI). 14. Sistema de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones anteriores, donde el heliostato (HO) además comprende unos medios motorizados de fijación (MMF) que fijan las facetas (F) a la estructura posterior de soporte (EPS).

Etiquetas

Inventores
Sánchez González AlbertoCastillo Montoya José Carlos
Solicitantes
Universidad Carlos III de Madrid
Clasificacion ipc
F24S 23/ 77 A IF24S 50/ 20 A IG01S 3/ 786 A I
Logo

Innovation CM
Challenges
Europa2i
Entrepreneurship
R&D&I Search
Agents
Events
Reports
About us
Contact
Give us your opinion
Cookies
Legal notice
Privacy

© Copyright Espacio Madrileño de Investigación e Innovación 2026