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Resumen

Velocimetry procedure by particle image correlation with spatial resolution that is less than the size of the query window.This invention consists in the modification of the standard velocimetry by particle images (Particle Image Velocimetry or PIV). This modification is a new procedure for extracting the information regarding the movement field from the particle images. The problem that this new procedure solves is the acquisition of spatial resolutions that are less than the query window in PIV by correlation (effect that can be observed in Figure 3, series 4, - 64 pixel query windows). The new procedure can be applied to any PIV equipment by numeric correlation. Consequently, its possibility of application covers all the fields in which standard PIV is employed (such as aeronautics, naval, environment, civil engineering and mechanical, chemical industry, etc.)<IMAGE>

Reivindicaciones

1. 1. Procedimiento iterativo con corrección de la deformación del patrón departículas para la obtención de la medida de PIV, caracterizado por elempleo de funciones de ponderación espacial sobre la ventana deinterrogación que, para 7·F/16 > | > F/16 ó7·F/16 > | > F/16, presentan valores menores que losdefinidos por la pirámide definida por un vértice en el centro de laventana de interrogación, de valor igual al mayor valor de dicha funciónde ponderación y lados de su base definidos por los lados de la ventanade interrogación (en esta definición F es la longitud del lado de laventana de interrogación y h son coordenadas medidas apartir del centro de la ventana de interrogación). 2. 2. Procedimiento iterativo según reivindicación 1 caracterizado por elempleo de funciones de ponderación espacial que, además de lasrestricciones mencionadas, presentan, como restricción adicional, valoresmenores que los definidos por la pirámide definida por un vértice en elcentro de la ventana de interrogación, de valor igual al mayor valor dedicha función de ponderación y lados de su base definidos por los ladosde la ventana de interrogación; para F/16 > | > F/32ó ·F/16 > | > F/32 (en esta definición F es lalongitud del lado de la ventana de interrogación y h soncoordenadas medidas a partir del centro de la ventana de interrogación).

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