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METHOD FOR POSITIONING DEVICES IN RELATION TO A SURFACECM Patents

Índice de la ficha

Updated at
24/07/2026
Numero publicacion
WO.2016038235.A1
Fecha publicacion
17/03/2016
Numero solicitud
WO2015ES70651
Fecha presentacion
07/09/2015

En detalle

Resumen

The invention relates to a method that permits surfaces to be characterised in accordance with different points on same, such that it is not necessary to mark the surface to be able to work on same using automated tools, given that the surface to be worked is artificially marked and mapped such that working equipment can be guided over the surface without the need for auxiliary elements. The method according to the invention is based on a prior scanning of the surface such that an image or various images thereof is/are generated, based on which and a prior processing of which a precise mapping is produced that permits the surface to be characterised and the knowledge thereof permits any work to be carried out that requires the knowledge of the position on the surface without having to handle same.

Reivindicaciones

1. R E I V I N D I C A C I O N E S Método de posicionamiento de dispositivos en relación a una superficie, método caracterizado por que comprende las siguientes fases: - una fase de registro, que se realiza al menos una vez, fase de registro que a su vez comprende los siguientes pasos: realizar al menos un primer barrido de la superficie para generar una primera imagen de la superficie mediante unos primeros medios electrónicos de captura de imágenes, determinar una serie de primeros puntos característicos de la textura (PCTs) comprendidos en la primera imagen de la superficie, establecer un primer sistema de coordenadas de referencia (ES) dentro de la primera imagen de la superficie, calcular las coordenadas de las respectivas posiciones de cada PCT de la primera imagen de la superficie con respecto al sistema de referencia (ES) fijado con anterioridad, determinar para cada PCT de la primera imagen sus PCTs más próximos, generando una serie de agrupaciones de la primera imagen de la superficie que respectivamente comprenden cada PCT de la primera imagen y sus PCTs más próximos, determinar para cada agrupación de la primera imagen de la superficie al menos un PCT central de la agrupación (CA), obtener para cada agrupación de la primera imagen de la superficie unos vectores formados entre las coordenadas del CA y las coordenadas del resto de PCTs que pertenecen a la agrupación correspondiente al CA, fijar para cada agrupación de la primera imagen de la superficie un eje de referencia (ERA) con origen en el CA, determinar respectivas posiciones relativas de cada PCT de la agrupación de la primera imagen de la superficie con respecto al correspondiente CA; donde una posición relativa de cada PCT dentro de la agrupación (PRPA) se compone de la longitud del vector antes obtenido y un ángulo que forma dicho vector con el ERA, x. almacenar en una estructura informática (El), información referida a cada agrupación de la primera imagen de la superficie, donde dicha información comprende al menos un juego de datos que está formado por: las coordenadas del CA respecto al primer sistema de coordenadas de referencia ES fijado sobre la imagen de la superficie y las PRPAs, y - una fase de posicionamiento sobre la superficie, fase de posicionamiento que a su vez comprende los siguientes pasos: x¡. realizar un segundo barrido de al menos una zona de la superficie para generar una segunda imagen de la superficie mediante unos segundos medios electrónicos de captura de imágenes, xii. determinar una serie de segundos puntos característicos de la textura (PCTZ) comprendidos en la segunda imagen, xiii. establecer un segundo sistema de coordenadas de referencia (EZ) dentro de la segunda imagen, xiv. calcular respectivas posiciones en coordenadas de cada PCTZ de la segunda imagen, respecto al segundo sistema de coordenadas de referencia (EZ), xv. determinar para cada PCTZ de la segunda imagen sus PCTZs más próximos, xvi. determinar al menos una agrupación de la segunda imagen donde dicha agrupación de la segunda imagen comprende al menos un PCTZ de la segunda imagen y sus respectivos PCTZs más próximos, xvü. determinar para cada agrupación de la segunda imagen al menos un PCTZ central de la agrupación (CAZ), xviii. obtener para cada agrupación de la segunda imagen, vectores formados entre las coordenadas del CAZ y las coordenadas de los respectivos PCTZs comprendidos en cada agrupación, xix. fijar para cada agrupación de la segunda imagen un eje de referencia (ERAZ) con origen en el CAZ, xx. determinar la posición relativa (PRPAZ) de los PCTZs de la agrupación de la segunda imagen con respecto al CAZ; donde la posición relativa de cada PCTZ dentro de la agrupación (PRPAZ) se compone de la longitud del vector antes obtenido y el ángulo que forma dicho vector que los une con respecto al ERAZ, calcular el número de coincidencias (NC) entre la información referida a cada agrupación de la primera imagen de la superficie almacenada en la estructura informática (El) y la información de cada agrupación de la segunda imagen obtenida en el paso anterior, donde (NC) se define como el número de PRPAs asociados a un primer punto característico de la textura (PCT) y PRPAZs asociados a un segundo punto característico de la textura (PCTZ) para los cuales las coordenadas coinciden dentro de unos márgenes de error predeterminados, y proporcionar la posición del CA de la agrupación perteneciente a la primera imagen de la superficie respecto al sistema de coordenadas (ES), y la posición de CAZ de la segunda imagen respeto al sistema de coordenadas (EZ) cuando el número de coincidencias (NC) entre dos agrupaciones obtenido en el paso xxi tiene un valor por encima de un primer número de coincidencias fijado con anterioridad (PNC), o guardar el número de coincidencias (NC) y la información de las agrupaciones con centro CA y CAZ con las que se ha dado ese número de coincidencias NC siempre y cuando NC es el máximo NC (MNC) conseguido durante una ejecución de la segunda fase. Método según reivindicación 1 caracterizado por que la determinación de los puntos característicos de la textura PCTs o PCTZs se lleva a cabo mediante al menos alguno de los siguientes procesos: • filtro lineal • diferencia de gaussianas • detección de gradiente • algoritmos de cálculo de puntos invariantes, y • detección de umbrales. Método según la reivindicación 2 caracterizado por que comprende aplicar en cada uno de los píxeles de al menos una zona de la primera y segunda imagen un umbral adaptativo destinado a detectar un porcentaje de los puntos característicos de la textura (PCTs, PCTZs). 4. Método según reivindicación 3 caracterizado porque la detección de los puntos característicos de la textura (PCT, PCTZ) se lleva a cabo mediante la aplicación de un filtro de diferencia de gaussianas con un radio establecido entre 3px y 25px, seguido de un umbral adaptativo destinado a encontrar un porcentaje de los pixeles con un valor que contenga aproximadamente entre el 0.1 % y el 1 % de los pixeles de mayor o menor intensidad de la imagen, y del cálculo del centro de masas de las áreas conexas de los pixeles encontrados 5. Método según reivindicación 2 caracterizado por que la determinación de los puntos característicos de la textura (PCT, PCTZ) se lleva a cabo mediante diferencia de gaussianas con un radio establecido entre 3 px y 25 px. 6. Método según reivindicación 1 ó 2 caracterizado por que adicionalmente comprende calcular para cada PCT o PCTZ de la agrupación un vector que une dicho PCT o PCTZ con cada uno de los restantes PCTs o PCTZs de la agrupación, y calcular el ángulo de dicho vector con respecto a una misma referencia predefinida para cada agrupación. 7. Método según una de las reivindicaciones anteriores caracterizado por que adicionalmente comprende determinar y comparar las características espectrales de los PCTs. 8. Método según reivindicación 1 caracterizado por que adicionalmente comprende determinar una orientación relativa entre la primera y la segunda imagen a partir de una rotación relativa de al menos un par de agrupaciones que respectivamente comprenden número de coincidencias (NC) por encima de un primer número de coincidencias fijado con anterioridad (PNC). 9. Método según reivindicación 1 u 8 caracterizado por que adicionalmente comprende realizar una comparación ángulos y/o distancias de las agrupaciones mediante unas mascaras rotatorias de bits. 10. Método según la reivindicación 1 , 8 ó 9 caracterizado por que adicionalmente y en caso de no encontrar dos agrupaciones con un NC por encima del PNC, proporciona como coordenadas válidas aquellas correspondientes a las agrupaciones con el MNC, siempre que el NC sea mayor que un segundo numero de coincidencias predefinido. 1 1. Método según la reivindicación 1 , 8, 9, o 10 caracterizado porque adicionalmente se proporciona una estimación de la probabilidad de error de las coordenadas encontradas, donde dicha estimación está basada en los valores de NCs o MNC.

Etiquetas

Inventores
Asensio Pizarro CarlosNedeltchev Koroutchev Kostadin
Solicitantes
Universidad Autónoma de Madrid
Clasificacion ipc
G06T 7/ 00 A I
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